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标题: 哪儿能查到 K7的 校准流程表? [打印本页]
作者: xinjinjie    时间: 2009-6-2 13:15
标题: 哪儿能查到 K7的 校准流程表?
想找个K7的流程表看看 请技术提供一个 谢谢$ k& o/ a5 k+ e/ I( n5 I
; N9 X! v5 q, d0 [
作者: 效率源技术部02    时间: 2009-6-2 13:24
标题: 回复：哪儿能查到 K7的 校准流程表?
可以在T级下输入E4E
5 H$ [7 L$ C. R! A- t4 e也可以在C级下输入D1 r, n) E- K3 m; _
使用这两个指令前,需要加载CERT 模块- l& S. w$ M, u- o" Z
, W7 L  C( B+ S
作者: xinjinjie    时间: 2009-6-2 13:42
标题: 回复：哪儿能查到 K7的 校准流程表?
现在正在跑校准 不能用这个方法查看
( L/ g" I5 M& p* k/ [7 i有切图或者 直接的文字表吗?6 j+ s0 i5 {( s4 @* ?5 g; I

. f! t+ A4 \3 A" {9 y' B7 w; |! p
作者: 效率源技术部01    时间: 2009-6-2 13:47
标题: 回复：哪儿能查到 K7的 校准流程表?
K7校准流程; Z5 B" ]6 r/ c3 P+ I6 k
02 03 72 04 05 06 07 10 11 12 13 14 15 16 17   b9 S5 A9 P8 Q/ ~% m7 h
18 19 1A 1B 1C 1D 1E 2A 1F 2F 0B 09 58 21 08 0A 0C' r1 \, m  s+ p: K1 P4 r. v
0F 0E 0D 40 25 31 32 33 34 36 37 26 3A 38 3B 3C
7 @& {" P9 z4 n3D 3E 3F 42 43 20 47 4B 48 41 27 49 4A 4D 39 22: ~9 o( V  p+ l: m- T
  61 28 62 29 63 59 35 56 6F 4E$ ?: i/ u3 T0 }; e3 s
如果在31，3A的流程出现NO LOG 很大可能是该盘的缺陷坏道确实太多，或是日志磁道被破坏引起，建议减少磁头数来重新做F级校准。  B. d' F( p, v* t  T
如果是在10 流程出现NO LOG，很大可能是引导的固件问题，或是人为的操作失误引起。10流程前面有一个99的校准流程，而99这个流程一般是在K7以后的硬盘和笔记本盘中才有，K7以前的校准是没有的。跑自动校准，到99这步停下来以后，需要手动从AGE为10开始跑（要根据99后面的流程，来确定具体跑什么流程，有的盘99流程以后并不一定是10）。而有的用户，在操作时忘了这个步骤，导致校准失败。在日志中显示为NO LOG。可以手动设置AGE为10，然后用CTRL+T来从10开始继续跑。7 o1 O  y9 g1 u1 L" j
如果在58 流程出现NO LOG，表示该盘的一个或几个磁头有问题，校准测试不能通过，建议减少磁头数来重新做校准。  m( Y" N! s, W. I# ^6 N
如果在02流程出现 NO LOG，很大可能是固件不匹配引起。但是也有磁头损坏的可能，建议先换固件来重新做。
2 j6 d1 s% i3 ^! W/ K( }有的硬盘在出现NO LOG的情况后，可以在T级下使用H指令来清掉硬盘的健康值，从而能使校准可以从NO LOG的流程继续跑下去。这样的盘也可以做到50结束，但是这种盘很不稳定。返修率会很高。- w& V: T5 ?; y/ }3 X
注：启动自校准后，硬盘的数据区将全面被清零操作，有重要数据的硬盘在做此操作以前请备份数据，以免造成数据的丢失。. r8 ?! {4 u8 \  g/ s% b( ]  l% y
  : g( R8 I5 D' r* n8 Z2 q
  " h" l* K4 m5 `6 X
  希捷酷鱼7200.7硬盘自校准各流程功能明细4 T. a- e1 D5 @7 ~3 C" x4 G+ _% ]
4.1 硬盘安装和伺服校正测试
& c8 H4 q7 V0 w/ d3 Q- m8 e4.1.1 TEST 01 - 制造临时日志 ) }  ~2 `7 I+ d6 M/ Y
4.1.2 TEST 02 - 格式化和测试错误日志
' K: M; P2 d( l: k) p# e4.2 磁头和电路校正测试 . c" Q! }, S+ _& Q4 b9 }8 U* u
4.2.1 TEST 03 - 伺服校正信息 0 I# q# v, u) U- Y3 d
4.2.2 TEST 04 - 斜波加载/卸载测试
& O$ T, J. e5 g2 Z& [& l4.2.3 TEST 05 - 传感器滞后测试 6 O' E( S2 F2 a
4.2.4 TEST 06 - 磁头切换测试
7 q/ q; _* V" ]+ J" \. }! N* D4.2.5 TEST 07 - RUNOUT补偿测试
; Y, Q. T. c# N4.2.6 TEST 08 - 当检查伺服错误时盘上写入2T类型
1 a8 g1 p/ K/ w4.2.7 TEST 09 - 磁头低飞显示   {6 |# E; x. `4 G6 C
4.2.8 TEST 0A - 磁头稳定性测试
' \: P2 U0 a# A$ g4.2.9 TEST 0C - 读取伺服缺陷测试位置 4 I8 p- g1 w8 |4 L) W& {
4.3.10 TEST 0D - 重学RRO ZAP测试 $ x. ]0 f8 W& b# ]. S, \
4.3.11 TEST 0E - 寻找跳过柱面测试（还未实现过）
: `0 o- o# F! |- L$ M! n4.3.12 适应性TEST 0F - 当前写测试 , L# p/ Q, Z/ m- ]3 F
4.3磁头和电路校正测试 * P# }9 e5 z8 t$ i9 J. d* E
4.3.1 TEST 10 - 1E, 2A - 2E 适配区域#（最后区域）通过 0 -所有磁头
/ n, q( b0 Z4 M/ `4.3.2 TEST 1F - 显示适配性，VCO，和DIODE温度设置
5 e4 C( j# D5 j- S* F. a4.3.3 TEST 2F - 显示FIR适应性设置 # Y2 O( E, F$ j' Y. o" z
4.4 伺服性能验证测试
$ D1 _( G3 ?+ g& d' `5 i0 W. q4.4.1 TEST 20, TEST 60 - 伺服访问次数
/ \0 c9 f1 ?3 v! w: R4.4.2 TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 测试 2 Y2 \# C& V! Y  Z& @, q! U7 ^. Z
4.4.3 TEST 23 - 开始/停止 （10次）
  _: k& L" y: P7 s/ d. e4.4.4 TEST 24 - 开始/停止 （2000次） * V- ]! J1 z( r* T2 ~
4.4.5 TEST 29 - 伺服缺陷扫描
2 e' p1 h5 u" l& Q; x4.5 缺陷查找和再分配测试 ! v" }. b! q. v( S+ @; Y
4.5.1 TEST 30 - 验证所有磁盘组读取，AT级 + N/ Z6 `- d; s" T4 z
4.5.2 TEST 31 - 楔形缺陷扫描. 磁头 0-1无读取级，50写级
: L$ L8 n; o3 |6 s+ x" Q. f4.5.3 TEST 32 - 楔形缺陷扫描. 磁头 2-3无读取级，50写级 ( z% K$ z# C# V' M
4.5.4 TEST 36 - 在对磁头0-1楔形扫描中查找出来的缺陷进行定位
$ t& S& m- h( M$ @) n3 J4 @4.5.5 TEST 37 - 在对磁头2-3楔形扫描中查找出来的缺陷进行定位
! _3 d3 N/ r6 C) s4.5.6 TEST 3A-使用1重复读取所有磁头抛光和缺陷测试，重复50次
, N) x1 @" l+ y8 n; K7 [( Z# i% I1 Y4.5.7 TEST 3B- 建立缺陷表；填充受损磁头0，1 . [( ^1 M- P5 H% m. C* y0 b' j& Q
4.5.8 TEST 3C- 建立缺陷表；填充受损磁头2，3 4 T" n& X1 {+ B
4.5.9 TEST 3D- 建立缺陷表；填充受损磁头4，5
: l! F. K; y" P, T# S7 D4 Y4.5.10 TEST 3E- 建立缺陷表；填充受损磁头6，7 . n8 s3 n7 t* d* m2 j. D
4.5.11 TEST 3F- 回送测试，写通过测试
! }) V4 ?0 Y& Y$ L4 ^1 W5 f4.6 错误率性能测试 + W$ K/ |& U4 m6 K  s- H
4.6.1 TEST 40- 开始/停止（10次）
! M  ]: M  B5 F5 ~" C: ~# S" F4.6.2 TEST 41- 磁道侵入
9 i4 e( y- v& H% J& h! n. i4.6.3 TEST 42- SPIN STAND模拟器- 区域较小错误碧绿
3 g. O. F; w9 }1 J! [3 Y1 a4.6.4 TEST 43- RAM 测试 7 ^* ]- h3 K; E/ m; e$ U# V
4.6.5 TEST 46- 数据编译比率 7 F* }1 c2 S! f: j3 G7 v
4.6.6 TEST 47- 冷写/磁道擦除显示 0 z* ~8 X* T  m; k* j5 B4 F
4.6.7 TEST 48- 错误率，写通过 & @2 X* P* G9 P- e
4.6.8 TEST 49- 写/读/比较（零式样） ' X3 ?/ R8 u3 S2 P  B% B
4.6.9 TEST 4A- 补偿系数检测
# g' A# t0 u& @$ a1 i: {4.6.10 TEST 4B- 读
4 A+ h+ }2 ?( ?7 r( V8 _4.6.11 TEST 4B -所有磁道冷写显示 * s; x! B9 ]/ {& d; P: G  ]2 T
4.6.12 TEST 4C- 磁头飞行高度测量   e. x- M; C9 I5 \7 ]! S
4.6.13 TEST 4D- 收集自动FA数据
! k' r, }* Y1 F3 ^; R7 M4.6.14 TEST 4E- 检查积累健康和创建自检概要 , Z  j1 ]+ `" I
4.6.15 TEST 4F- 失败磁盘测试
/ b4 L9 ?7 e. C. C6 [( N4.6.16 TEST 50- 通过磁盘测试 - r% ]; l; _) U& I, Q
4.7 特殊测试 0 {* ?% E. {, z( F6 N1 [2 r
4.7.1 TEST 51 - 错误率
$ x- @, A9 w- Z4.7.2 TEST 52 - 磁盘组写RRO 测试 # W& b; c+ J" O( x
4.7.3. TEST 54- 拾取歪测
3 [) Y" E" O/ c9 k# `4.7.4 TEST 55 - 一百万随机读写
, f/ }$ S+ ?- t( J+ \" S4.7.5 TEST 56 -写/读/比较（零式样）
! p  f% G! e) ~% i" K$ U4.7.6 TEST 61,62,63- 制造可靠性测试 * `3 m# X0 f6 @. a. ?; s9 Z
4.7.7 TEST 64- 磁头稳定性测试 6 }, M/ W- H" a6 Z+ e9 i5 W) e! Y
4.7.8 TEST65，66，67 - 媒体延时测试 5 k/ w# R8 k" P+ ?6 I) n
. B% V9 m. m+ i- a" Y
作者: xinjinjie    时间: 2009-6-2 13:57
标题: 回复：哪儿能查到 K7的 校准流程表?
实在太详细了 谢谢
- e% v# I- A+ T]. l9 U) O  S1 y) Q, y7 v; }0 \$ ?

! A! q2 K" ^( @; ~, D& d3 c
作者: 效率源技术部01    时间: 2009-6-2 14:01
标题: 回复：哪儿能查到 K7的 校准流程表?
其实在论坛已经有回复的！
- c' O6 ]. J, t
0 D/ b4 d5 T: {0 G& C. h4 I- Y6 v7 y; T  d% m/ x  w
作者: Andy    时间: 2009-6-8 03:56
标题: 回复：哪儿能查到 K7的 校准流程表?
呵呵，学习了!$ }( O! ~, D; O2 K# x9 z( W' l
l]5 L- P) D5 Y9 {+ Y! ~
& e: U$ ?1 I; A4 Q$ \* }




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