硬盘坏道的产生及表现

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发布时间: 2015-8-11 14:43

本帖最后由 mantou 于 2015-8-26 15:19 编辑日常生活中我们常常听说硬盘坏道，但是具体什么是坏道很多人却并不十分清楚。其实，硬盘坏道包括物理坏道和逻辑坏道。硬盘物理坏道硬盘物理坏道也即坏扇区，是硬盘中 ...

效率源DRS入选NIST《电子取证工具名录》: 近日，美国国家标准与技术研究院（NIST）旗下的取证工具测试认证机构CFTT在其官网上发布了最新一期《电子取证工具名录》。名录显示，来自效率源科技的DRS数据恢复系统成功入选。

【产品升级】新起点，高八度！: 经过大半年的设计调整与开发测试，DRS完成了全新改版与升级版本，并正式进入了公测阶段！升级后的DRSV17.7.3.239版性能更优越、使用更方便、视觉更美观！下面就请跟随小编一睹为快，看看我们具体都进行了哪些升级……

如何通过芯片提取获取有屏锁三星Galaxy S6数据: 对于手机电子数据取证从业人员来说，手机屏幕锁往往是阻碍数据获取的一大难题，尤其是当手机有Bootloader锁的情况下。虽然可以各种办法来绕锁，但也受Android系统版本、手机设置、root权限等条件限制。本期，数据恢复四川省重点实验室科研人员将介绍如何通过芯片提取获取有屏锁三星Galaxy S6 手机数据，此种方法在国内属首创。

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