|
|
回复：哪儿能查到 K7的 校准流程表?
K7校准流程- i& b) f( V l/ _4 W% Z0 L# N: g; p
02 03 72 04 05 06 07 10 11 12 13 14 15 16 17
9 v' t- d, u" K! k$ b* @18 19 1A 1B 1C 1D 1E 2A 1F 2F 0B 09 58 21 08 0A 0C6 Y7 m3 l7 ]* i/ Z' ^/ @
0F 0E 0D 40 25 31 32 33 34 36 37 26 3A 38 3B 3C 8 @7 _' s6 c# a7 _# n+ \- v
3D 3E 3F 42 43 20 47 4B 48 41 27 49 4A 4D 39 22
$ S. l9 ~- D4 ]- W4 Z% N' e8 [ 61 28 62 29 63 59 35 56 6F 4E
2 \5 Q6 v- f+ n n3 R. P) R6 M如果在31，3A的流程出现NO LOG 很大可能是该盘的缺陷坏道确实太多，或是日志磁道被破坏引起，建议减少磁头数来重新做F级校准。
V; a, K1 M0 Y2 I2 b如果是在10 流程出现NO LOG，很大可能是引导的固件问题，或是人为的操作失误引起。10流程前面有一个99的校准流程，而99这个流程一般是在K7以后的硬盘和笔记本盘中才有，K7以前的校准是没有的。跑自动校准，到99这步停下来以后，需要手动从AGE为10开始跑（要根据99后面的流程，来确定具体跑什么流程，有的盘99流程以后并不一定是10）。而有的用户，在操作时忘了这个步骤，导致校准失败。在日志中显示为NO LOG。可以手动设置AGE为10，然后用CTRL+T来从10开始继续跑。3 f% _( x! @" q# G k+ u
如果在58 流程出现NO LOG，表示该盘的一个或几个磁头有问题，校准测试不能通过，建议减少磁头数来重新做校准。
4 B8 s2 O& P, x. P6 P, ^如果在02流程出现 NO LOG，很大可能是固件不匹配引起。但是也有磁头损坏的可能，建议先换固件来重新做。
! Q1 H* Q2 x! r" h$ U1 O l, Y有的硬盘在出现NO LOG的情况后，可以在T级下使用H指令来清掉硬盘的健康值，从而能使校准可以从NO LOG的流程继续跑下去。这样的盘也可以做到50结束，但是这种盘很不稳定。返修率会很高。
3 l, ]' }3 r, I9 G Z" ^3 g注：启动自校准后，硬盘的数据区将全面被清零操作，有重要数据的硬盘在做此操作以前请备份数据，以免造成数据的丢失。8 t' ?- \8 d/ {) G8 W$ \
# K) n1 R G; E6 J
; R J2 P. @8 r% w0 B9 k 希捷酷鱼7200.7硬盘自校准各流程功能明细
4 T% E3 I. {4 s |) x4.1 硬盘安装和伺服校正测试 ' h! X: [2 [% Z* ~, `
4.1.1 TEST 01 - 制造临时日志
- ?& y, N( V* X" Y9 K" b4.1.2 TEST 02 - 格式化和测试错误日志 ' Z" Y! N2 i2 F c, F
4.2 磁头和电路校正测试 1 d4 C( e2 [4 |1 R4 T
4.2.1 TEST 03 - 伺服校正信息
' q+ O( Z; e+ s4.2.2 TEST 04 - 斜波加载/卸载测试 5 T* g% W: M% u/ d0 D
4.2.3 TEST 05 - 传感器滞后测试 % _* t; b! ^3 G) y
4.2.4 TEST 06 - 磁头切换测试
& K) @5 @( D: G" f) f4.2.5 TEST 07 - RUNOUT补偿测试
; Q. }" @& U5 m! y8 y* Q4.2.6 TEST 08 - 当检查伺服错误时盘上写入2T类型
9 M+ g& _# Q S& N: ~4.2.7 TEST 09 - 磁头低飞显示 ; Y( a% \" p: z+ o
4.2.8 TEST 0A - 磁头稳定性测试
1 H, v9 C) r& S& {$ a' q: G9 Z4.2.9 TEST 0C - 读取伺服缺陷测试位置 6 Z% J3 w/ X' b' X9 l4 }5 q
4.3.10 TEST 0D - 重学RRO ZAP测试
. W; V' ?1 A$ ?9 y* ?4 q2 v6 f4.3.11 TEST 0E - 寻找跳过柱面测试（还未实现过）
2 x, _" Z* R+ l4.3.12 适应性TEST 0F - 当前写测试 ) ?3 K( `: P5 c( |8 h
4.3磁头和电路校正测试
% o& ]8 s N5 J3 j4.3.1 TEST 10 - 1E, 2A - 2E 适配区域#（最后区域）通过 0 -所有磁头 0 A. E; {& C+ ^" s6 x* m' n' h
4.3.2 TEST 1F - 显示适配性，VCO，和DIODE温度设置
# L3 c1 m# Y. U) j# N/ u4.3.3 TEST 2F - 显示FIR适应性设置 ; D8 {% f( h. F6 Y7 i
4.4 伺服性能验证测试 # i0 r# c. P/ h* o6 U* u
4.4.1 TEST 20, TEST 60 - 伺服访问次数
, X. ?8 Q- Q( Y4.4.2 TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 测试 $ p: |0 q6 [3 c" R9 F4 ^8 f
4.4.3 TEST 23 - 开始/停止 （10次）
7 Q( L/ r' ?' I5 \4.4.4 TEST 24 - 开始/停止 （2000次）
6 P* [- E: l9 p# O8 Z4 k$ O4.4.5 TEST 29 - 伺服缺陷扫描
, ^: B p; T6 v! g4.5 缺陷查找和再分配测试 9 j2 X1 c/ _ }; O5 R# E( j( W- F5 V
4.5.1 TEST 30 - 验证所有磁盘组读取，AT级 # e! [% n* B. y( ^
4.5.2 TEST 31 - 楔形缺陷扫描. 磁头 0-1无读取级，50写级
9 S5 f! F, o9 U8 E4.5.3 TEST 32 - 楔形缺陷扫描. 磁头 2-3无读取级，50写级 + v0 k& G; J. z2 O. b, L+ h5 J5 c/ @
4.5.4 TEST 36 - 在对磁头0-1楔形扫描中查找出来的缺陷进行定位 ! W {4 T% Q! s8 ?% ^& C0 `3 S% X
4.5.5 TEST 37 - 在对磁头2-3楔形扫描中查找出来的缺陷进行定位 3 r# `* u" ~' C5 A: V, }
4.5.6 TEST 3A-使用1重复读取所有磁头抛光和缺陷测试，重复50次
" Z7 O- z6 p3 Z0 o) f4 a4.5.7 TEST 3B- 建立缺陷表；填充受损磁头0，1
$ S) w/ s/ F6 A4.5.8 TEST 3C- 建立缺陷表；填充受损磁头2，3
6 M) f2 C5 z% ?4.5.9 TEST 3D- 建立缺陷表；填充受损磁头4，5 7 @' b! j' K" D8 R0 c( M
4.5.10 TEST 3E- 建立缺陷表；填充受损磁头6，7
$ _" E N* H$ R8 S% f5 I# I4.5.11 TEST 3F- 回送测试，写通过测试
: j& p* A( R% p, g! m m4.6 错误率性能测试 * F. z; a1 g. j$ {
4.6.1 TEST 40- 开始/停止（10次）
4 D" M9 c7 a; a& Q- E4.6.2 TEST 41- 磁道侵入 3 i o) P) e% g* m
4.6.3 TEST 42- SPIN STAND模拟器- 区域较小错误碧绿 2 K7 m j2 v- F3 |
4.6.4 TEST 43- RAM 测试 - o* p9 u. p7 n6 P4 t
4.6.5 TEST 46- 数据编译比率 : j. ?% d# q- x' n: `
4.6.6 TEST 47- 冷写/磁道擦除显示 ; e2 J. a% u0 G) g0 s5 \9 K4 o
4.6.7 TEST 48- 错误率，写通过 ( b3 h6 L4 ~& c: R! |% T
4.6.8 TEST 49- 写/读/比较（零式样） ( w/ g f7 A/ B. H
4.6.9 TEST 4A- 补偿系数检测 ; ~2 C7 t1 v( p W
4.6.10 TEST 4B- 读
+ H0 n8 X6 W) D }- ]( ~- e% l8 O4.6.11 TEST 4B -所有磁道冷写显示
1 w) Y1 E$ N8 c6 E+ J! b1 t4.6.12 TEST 4C- 磁头飞行高度测量 5 _9 L- e9 B/ B" S0 q" k4 s
4.6.13 TEST 4D- 收集自动FA数据
4 ]' ~' u0 s+ h& ~" S4.6.14 TEST 4E- 检查积累健康和创建自检概要 % `0 x t: ]: v1 e5 f: ?
4.6.15 TEST 4F- 失败磁盘测试
8 m7 ^& v+ N+ _+ N% E* ~, P4.6.16 TEST 50- 通过磁盘测试 . O3 @ f4 g7 ~" i3 p
4.7 特殊测试
, B1 ]! f" _# ^7 d4.7.1 TEST 51 - 错误率 8 h! A' s R( I1 S4 d
4.7.2 TEST 52 - 磁盘组写RRO 测试
( x1 V* t9 d1 S% l; a4.7.3. TEST 54- 拾取歪测 4 z: B9 w% b: h1 [: L1 d2 J
4.7.4 TEST 55 - 一百万随机读写 6 x1 u- C3 A) X( }
4.7.5 TEST 56 -写/读/比较（零式样） ! W( n z' G7 a( {
4.7.6 TEST 61,62,63- 制造可靠性测试 % h/ R/ s+ h7 T+ W9 S
4.7.7 TEST 64- 磁头稳定性测试 : m5 c, o% {3 W
4.7.8 TEST65，66，67 - 媒体延时测试
- m9 _0 g% M& e- j& E' p% y* W) V* u( o5 \3 t' i
|
|
/3 
发表于 2009-6-2 13:15:00
QQ好友和群
QQ空间
腾讯微博
腾讯朋友
收藏
分享
发表于 2009-6-2 13:24:00
楼主
发表于 2009-6-2 13:47:00
) U; H8 }) V: p6 J
