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回复：级别校准解释
K7校准流程) |7 \# r9 t; C
02 03 72 04 05 06 07 10 11 12 13 14 15 16 17 % G: ~- b5 r' a5 F* G
18 19 1A 1B 1C 1D 1E 2A 1F 2F 0B 09 58 21 08 0A 0C5 w, B0 d' r% M# L. Y* s
0F 0E 0D 40 25 31 32 33 34 36 37 26 3A 38 3B 3C
0 w/ w4 _4 s4 p" C/ d3D 3E 3F 42 43 20 47 4B 48 41 27 49 4A 4D 39 22$ l, ]) L7 P% Z' D9 D+ n5 h% g- z3 r
61 28 62 29 63 59 35 56 6F 4E
3 c. [* i! r* I A如果在31，3A的流程出现NO LOG 很大可能是该盘的缺陷坏道确实太多，或是日志磁道被破坏引起，建议减少磁头数来重新做F级校准。
0 G- o0 U4 O4 P+ j, k如果是在10 流程出现NO LOG，很大可能是引导的固件问题，或是人为的操作失误引起。10流程前面有一个99的校准流程，而99这个流程一般是在K7以后的硬盘和笔记本盘中才有，K7以前的校准是没有的。跑自动校准，到99这步停下来以后，需要手动从AGE为10开始跑（要根据99后面的流程，来确定具体跑什么流程，有的盘99流程以后并不一定是10）。而有的用户，在操作时忘了这个步骤，导致校准失败。在日志中显示为NO LOG。可以手动设置AGE为10，然后用CTRL+T来从10开始继续跑。# d8 K& n W- r
如果在58 流程出现NO LOG，表示该盘的一个或几个磁头有问题，校准测试不能通过，建议减少磁头数来重新做校准。
8 `( Q+ u5 ]6 X0 t5 l2 [8 E" q" P如果在02流程出现 NO LOG，很大可能是固件不匹配引起。但是也有磁头损坏的可能，建议先换固件来重新做。4 _' m1 c) W3 k
有的硬盘在出现NO LOG的情况后，可以在T级下使用H指令来清掉硬盘的健康值，从而能使校准可以从NO LOG的流程继续跑下去。这样的盘也可以做到50结束，但是这种盘很不稳定。返修率会很高。/ I1 x! [ v2 P' j" m4 {
注：启动自校准后，硬盘的数据区将全面被清零操作，有重要数据的硬盘在做此操作以前请备份数据，以免造成数据的丢失。, n' F& Y+ @/ n7 B
: Y( e w9 @; H1 G% ?4 M 4 I+ D5 E1 A2 i& b ? d
希捷酷鱼7200.7硬盘自校准各流程功能明细
% b% a2 e: O. B! I4.1 硬盘安装和伺服校正测试
# P( z0 w, @' y; U4.1.1 TEST 01 - 制造临时日志 , K2 }' g5 K& @- F5 l. n# I/ p/ {
4.1.2 TEST 02 - 格式化和测试错误日志 5 _9 h9 F. g) g. d+ J+ C
4.2 磁头和电路校正测试 & B3 t9 O" \0 N2 ~# z& c
4.2.1 TEST 03 - 伺服校正信息
' v+ }% L. l0 a+ u) k' _( f4.2.2 TEST 04 - 斜波加载/卸载测试 * z8 d4 q0 c( I0 C
4.2.3 TEST 05 - 传感器滞后测试
+ h, M/ P0 f# H3 B4.2.4 TEST 06 - 磁头切换测试 . l2 ?, q8 v* |" H, _& @
4.2.5 TEST 07 - RUNOUT补偿测试
# I8 ^9 n$ k8 M9 i( {( o" p4.2.6 TEST 08 - 当检查伺服错误时盘上写入2T类型
1 a) ?! |/ E/ K& ^8 m9 ~. r4.2.7 TEST 09 - 磁头低飞显示 ; Z' }$ U. ]: o4 |- k3 L4 k4 `0 D& |
4.2.8 TEST 0A - 磁头稳定性测试
& O* K* [6 C! Q9 F$ O* q" k4.2.9 TEST 0C - 读取伺服缺陷测试位置 2 Q" S; \- i7 A( I) S% V
4.3.10 TEST 0D - 重学RRO ZAP测试
1 ?7 k q3 b6 Y8 |4.3.11 TEST 0E - 寻找跳过柱面测试（还未实现过） - M$ V7 m+ R; U8 b6 z0 D
4.3.12 适应性TEST 0F - 当前写测试
! I$ G$ O. h; `! t) V; J4.3磁头和电路校正测试 & H4 l$ i! S7 b- ~1 S0 s
4.3.1 TEST 10 - 1E, 2A - 2E 适配区域#（最后区域）通过 0 -所有磁头 3 \- d! |) }- g a$ v" S! `4 {
4.3.2 TEST 1F - 显示适配性，VCO，和DIODE温度设置 ) @! N' ~% T) _, F& B
4.3.3 TEST 2F - 显示FIR适应性设置
$ i; y- O7 @9 t+ U4.4 伺服性能验证测试 1 h" S* M R$ V( s+ Z
4.4.1 TEST 20, TEST 60 - 伺服访问次数 % P1 }5 E, a& f/ y6 @
4.4.2 TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 测试
- @+ i D! U" Q! a. T$ V* P6 B4.4.3 TEST 23 - 开始/停止 （10次） ; T; t% N4 B! U8 g0 G5 K6 `
4.4.4 TEST 24 - 开始/停止 （2000次）
5 x9 c( H1 j$ o8 G( m2 _4.4.5 TEST 29 - 伺服缺陷扫描 ' C+ g4 K- I2 L5 q: \
4.5 缺陷查找和再分配测试 2 D, d2 j0 i5 e$ _! c; D h
4.5.1 TEST 30 - 验证所有磁盘组读取，AT级
( c. f+ I. D3 q4.5.2 TEST 31 - 楔形缺陷扫描. 磁头 0-1无读取级，50写级
2 j! t' Z- u( R+ t4.5.3 TEST 32 - 楔形缺陷扫描. 磁头 2-3无读取级，50写级 5 C+ b$ O- e: y1 P6 {
4.5.4 TEST 36 - 在对磁头0-1楔形扫描中查找出来的缺陷进行定位
2 z- _! P% w: A4.5.5 TEST 37 - 在对磁头2-3楔形扫描中查找出来的缺陷进行定位
, u. V/ M( V' s3 z) }( e0 S4.5.6 TEST 3A-使用1重复读取所有磁头抛光和缺陷测试，重复50次
; M" L7 U9 F+ \" ~0 k5 a; i4.5.7 TEST 3B- 建立缺陷表；填充受损磁头0，1 " C8 w* _( K3 Z0 s
4.5.8 TEST 3C- 建立缺陷表；填充受损磁头2，3
* d* V$ V" R d) _2 {" O4.5.9 TEST 3D- 建立缺陷表；填充受损磁头4，5 - K- y" B) @! K+ n; _$ ]2 K, y
4.5.10 TEST 3E- 建立缺陷表；填充受损磁头6，7
# {2 Y0 j3 V! ?9 T/ O7 ]4.5.11 TEST 3F- 回送测试，写通过测试
Q% ]+ F7 e( B' A- P4.6 错误率性能测试
" y8 V* ^; d; S% D4.6.1 TEST 40- 开始/停止（10次）
# |% s, z/ a& d" Z9 a: `0 c4.6.2 TEST 41- 磁道侵入 % I( h5 h+ K/ N
4.6.3 TEST 42- SPIN STAND模拟器- 区域较小错误碧绿
# P" `: [. w7 X" j9 T0 `4.6.4 TEST 43- RAM 测试
7 V/ o$ M; L* j+ J, |6 h( D7 r4.6.5 TEST 46- 数据编译比率 + Y. v ]. r6 s: v) T( |' u% A
4.6.6 TEST 47- 冷写/磁道擦除显示
; N. }+ [! r" d. P4.6.7 TEST 48- 错误率，写通过
) ?/ V% ?* K3 O ^, X! I* i4.6.8 TEST 49- 写/读/比较（零式样）
* Q" H1 J c* n: T5 `8 [7 T4.6.9 TEST 4A- 补偿系数检测 9 N; ^/ M$ |2 i* L9 h( m
4.6.10 TEST 4B- 读
4 J5 s4 S0 V# U! N+ y% q/ |4.6.11 TEST 4B -所有磁道冷写显示
& D; C) L) f$ [( I0 F; I- k4.6.12 TEST 4C- 磁头飞行高度测量
! ?. r- q/ r0 c" S7 k& I6 m4.6.13 TEST 4D- 收集自动FA数据 ! D% W, R& Y2 H! ~
4.6.14 TEST 4E- 检查积累健康和创建自检概要 ) s7 b* y2 Q/ w) V
4.6.15 TEST 4F- 失败磁盘测试
2 H+ n% g6 t' H. Y. X4.6.16 TEST 50- 通过磁盘测试
1 N, d5 n6 k. i3 p3 G3 s: l4.7 特殊测试
6 f! M1 i: k- x. N+ r4.7.1 TEST 51 - 错误率
* [3 V6 m" i. `. A$ ~$ S- Q! m3 w4.7.2 TEST 52 - 磁盘组写RRO 测试
0 k4 |4 }8 c* h% z: I4.7.3. TEST 54- 拾取歪测
, P0 [, s: T) Y2 p9 m0 O1 p$ }4.7.4 TEST 55 - 一百万随机读写 + R2 ^' q0 V1 D; l* Z
4.7.5 TEST 56 -写/读/比较（零式样） . t% P! o8 R4 f
4.7.6 TEST 61,62,63- 制造可靠性测试 % \& C. H) C, _1 L5 J) k4 h& N7 f- ?
4.7.7 TEST 64- 磁头稳定性测试
% g7 `0 g$ r: _* G' K6 \" ]4.7.8 TEST65，66，67 - 媒体延时测试" g+ k: c% B1 C3 S9 {) K+ y4 v
- \% ]% \- \: e3 }
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发表于 2009-5-31 20:55:00
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楼主
发表于 2009-6-1 08:53:00
