级别校准解释

chinalongcs

请教一下的校准都是什么意思能修那些问题
N4,,22    4级校准.
N8,,22    8级校准.
N31,,22  31级校准.
N26,,22  26级校准.
0 a2 Q* v/ @: g$ K+ w& z- y

效率源技术部05

K7校准流程
; i  |: ^0 h9 y1 G+ b4 q02 03 72 04 05 06 07 10 11 12 13 14 15 16 17
, H% X- a7 s6 |/ j/ ?18 19 1A 1B 1C 1D 1E 2A 1F 2F 0B 09 58 21 08 0A 0C
0F 0E 0D 40 25 31 32 33 34 36 37 26 3A 38 3B 3C
3D 3E 3F 42 43 20 47 4B 48 41 27 49 4A 4D 39 22
  61 28 62 29 63 59 35 56 6F 4E
4 w3 r8 Y  e" c- k如果在31，3A的流程出现NO LOG 很大可能是该盘的缺陷坏道确实太多，或是日志磁道被破坏引起，建议减少磁头数来重新做F级校准。
如果是在10 流程出现NO LOG，很大可能是引导的固件问题，或是人为的操作失误引起。10流程前面有一个99的校准流程，而99这个流程一般是在K7以后的硬盘和笔记本盘中才有，K7以前的校准是没有的。跑自动校准，到99这步停下来以后，需要手动从AGE为10开始跑（要根据99后面的流程，来确定具体跑什么流程，有的盘99流程以后并不一定是10）。而有的用户，在操作时忘了这个步骤，导致校准失败。在日志中显示为NO LOG。可以手动设置AGE为10，然后用CTRL+T来从10开始继续跑。
+ U* _/ ^. m! s: s" P" z如果在58 流程出现NO LOG，表示该盘的一个或几个磁头有问题，校准测试不能通过，建议减少磁头数来重新做校准。
! L4 G8 w4 d# V6 Y如果在02流程出现 NO LOG，很大可能是固件不匹配引起。但是也有磁头损坏的可能，建议先换固件来重新做。
+ \  e& k& x+ n' r5 r有的硬盘在出现NO LOG的情况后，可以在T级下使用H指令来清掉硬盘的健康值，从而能使校准可以从NO LOG的流程继续跑下去。这样的盘也可以做到50结束，但是这种盘很不稳定。返修率会很高。
注：启动自校准后，硬盘的数据区将全面被清零操作，有重要数据的硬盘在做此操作以前请备份数据，以免造成数据的丢失。
  
: V: ^: q. |5 K  
6 h) S; Y# \% x* L; i3 K$ x  D  希捷酷鱼7200.7硬盘自校准各流程功能明细
, S- X1 @6 J1 y7 x4.1 硬盘安装和伺服校正测试
4.1.1 TEST 01 - 制造临时日志
, B+ Q: p% j) c9 K" v7 o: Y4.1.2 TEST 02 - 格式化和测试错误日志
4.2 磁头和电路校正测试
4.2.1 TEST 03 - 伺服校正信息
4 @6 r# a( W. `% D4.2.2 TEST 04 - 斜波加载/卸载测试
7 k8 u% n) Q. x# m% z( w# }; x4.2.3 TEST 05 - 传感器滞后测试
! s' |, ~& l' n/ N* ?' B5 }4 f& d4.2.4 TEST 06 - 磁头切换测试
/ ?/ \' c' H1 r4.2.5 TEST 07 - RUNOUT补偿测试
4.2.6 TEST 08 - 当检查伺服错误时盘上写入2T类型
4 H! m1 k7 [" O* O5 R0 {4.2.7 TEST 09 - 磁头低飞显示
- [% e+ U4 g' ^7 s  }3 J: r7 P+ m4.2.8 TEST 0A - 磁头稳定性测试
8 R8 L7 ], ^; g6 n  q4.2.9 TEST 0C - 读取伺服缺陷测试位置
) N3 D7 _9 ?% M' ]* |- O  T4.3.10 TEST 0D - 重学RRO ZAP测试
4.3.11 TEST 0E - 寻找跳过柱面测试（还未实现过）
, p, n; t& {) e( P& a4.3.12 适应性TEST 0F - 当前写测试
7 E7 |8 i, W% i+ r9 ^2 g4.3磁头和电路校正测试
4.3.1 TEST 10 - 1E, 2A - 2E 适配区域#（最后区域）通过 0 -所有磁头
1 P; _; Y" F4 X6 l5 h4.3.2 TEST 1F - 显示适配性，VCO，和DIODE温度设置
4.3.3 TEST 2F - 显示FIR适应性设置
8 g( \* G0 F, k0 l0 ~4.4 伺服性能验证测试
! G/ Z' ?3 `4 v- \4.4.1 TEST 20, TEST 60 - 伺服访问次数
( b, W1 R, [) j4.4.2 TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 测试
, Q6 f# ?/ \" h6 c% m7 a7 n! j4.4.3 TEST 23 - 开始/停止 （10次）
. G  f, ?5 k" _9 S- h4.4.4 TEST 24 - 开始/停止 （2000次）
6 e) t" }6 T1 u& t& z1 P6 T, ^4.4.5 TEST 29 - 伺服缺陷扫描
4.5 缺陷查找和再分配测试
4.5.1 TEST 30 - 验证所有磁盘组读取，AT级
4.5.2 TEST 31 - 楔形缺陷扫描. 磁头 0-1无读取级，50写级
& J" ?% U- q+ a) o+ ^4.5.3 TEST 32 - 楔形缺陷扫描. 磁头 2-3无读取级，50写级
4.5.4 TEST 36 - 在对磁头0-1楔形扫描中查找出来的缺陷进行定位
4.5.5 TEST 37 - 在对磁头2-3楔形扫描中查找出来的缺陷进行定位
& V: J7 G& x1 T6 C& ~: t4.5.6 TEST 3A-使用1重复读取所有磁头抛光和缺陷测试，重复50次
4.5.7 TEST 3B- 建立缺陷表；填充受损磁头0，1
$ i' ^9 Q3 ~$ d) j4.5.8 TEST 3C- 建立缺陷表；填充受损磁头2，3
. |# K' a) v. c4 f. s4.5.9 TEST 3D- 建立缺陷表；填充受损磁头4，5
4.5.10 TEST 3E- 建立缺陷表；填充受损磁头6，7
' i8 k2 I$ X: n$ K' N4 d! a4.5.11 TEST 3F- 回送测试，写通过测试
4 ?, d2 m% S/ y4.6 错误率性能测试
4.6.1 TEST 40- 开始/停止（10次）
( U5 W" g2 V, `1 R- [: I0 F; N4.6.2 TEST 41- 磁道侵入
4.6.3 TEST 42- SPIN STAND模拟器- 区域较小错误碧绿
4.6.4 TEST 43- RAM 测试
6 v- M1 T  N* W0 J7 B4.6.5 TEST 46- 数据编译比率
4.6.6 TEST 47- 冷写/磁道擦除显示
2 L( I, e- B9 \( U  z; ^, K1 l4.6.7 TEST 48- 错误率，写通过
" t  f; U7 y' X/ o% r) d2 _4.6.8 TEST 49- 写/读/比较（零式样）
" Q; @6 v2 S* x; J5 d4.6.9 TEST 4A- 补偿系数检测
; t, {6 P9 \1 `" t3 M2 n4.6.10 TEST 4B- 读
" z, S8 Q' {4 {& Q6 `: U4.6.11 TEST 4B -所有磁道冷写显示
/ E1 V+ i; D% f6 q+ z' d4.6.12 TEST 4C- 磁头飞行高度测量
4.6.13 TEST 4D- 收集自动FA数据
4.6.14 TEST 4E- 检查积累健康和创建自检概要
4.6.15 TEST 4F- 失败磁盘测试
5 S4 p" a' @' E! D4.6.16 TEST 50- 通过磁盘测试
4.7 特殊测试
4.7.1 TEST 51 - 错误率
' ?$ u$ |( G; v' n( Y4 T: k& _# j4.7.2 TEST 52 - 磁盘组写RRO 测试
1 M3 L/ F% c# C8 Y, v3 m4.7.3. TEST 54- 拾取歪测
, B# v2 H$ S8 T" A5 ~) r" n3 V4.7.4 TEST 55 - 一百万随机读写
( M% `. w5 G5 B: D$ c4.7.5 TEST 56 -写/读/比较（零式样）
- z+ H" i( q2 \6 t4.7.6 TEST 61,62,63- 制造可靠性测试
4.7.7 TEST 64- 磁头稳定性测试
1 e5 ~/ C* N! R9 s# K1 z1 Z: L4.7.8 TEST65，66，67 - 媒体延时测试

. M! I9 w1 w6 j# U/ P

chinalongcs

谢谢

/ \0 k# K2 C5 a/ @4 U/ L/b]

view

:strong:

Andy

呵呵，这样的资料要是能够整理出来编成书就好了,盼望中....:Z