级别校准解释

chinalongcs

请教一下的校准都是什么意思能修那些问题
N4,,22    4级校准.
; _" H# z  c+ x/ [  z4 l7 t! ]N8,,22    8级校准.
# H3 x' n& W1 [( g4 U) d2 WN31,,22  31级校准.
N26,,22  26级校准.

5 g, M; i" V/ G" k/ u. @9 Q! L9 E& w

效率源技术部05

K7校准流程
02 03 72 04 05 06 07 10 11 12 13 14 15 16 17
18 19 1A 1B 1C 1D 1E 2A 1F 2F 0B 09 58 21 08 0A 0C
0F 0E 0D 40 25 31 32 33 34 36 37 26 3A 38 3B 3C
+ \5 V8 V7 X( _, X) \3D 3E 3F 42 43 20 47 4B 48 41 27 49 4A 4D 39 22
( d/ t2 x6 d9 F  61 28 62 29 63 59 35 56 6F 4E
如果在31，3A的流程出现NO LOG 很大可能是该盘的缺陷坏道确实太多，或是日志磁道被破坏引起，建议减少磁头数来重新做F级校准。
) Q( R- l  X  d/ \9 f4 w如果是在10 流程出现NO LOG，很大可能是引导的固件问题，或是人为的操作失误引起。10流程前面有一个99的校准流程，而99这个流程一般是在K7以后的硬盘和笔记本盘中才有，K7以前的校准是没有的。跑自动校准，到99这步停下来以后，需要手动从AGE为10开始跑（要根据99后面的流程，来确定具体跑什么流程，有的盘99流程以后并不一定是10）。而有的用户，在操作时忘了这个步骤，导致校准失败。在日志中显示为NO LOG。可以手动设置AGE为10，然后用CTRL+T来从10开始继续跑。
( v! _9 ?; i1 W3 J! r/ Y如果在58 流程出现NO LOG，表示该盘的一个或几个磁头有问题，校准测试不能通过，建议减少磁头数来重新做校准。
如果在02流程出现 NO LOG，很大可能是固件不匹配引起。但是也有磁头损坏的可能，建议先换固件来重新做。
有的硬盘在出现NO LOG的情况后，可以在T级下使用H指令来清掉硬盘的健康值，从而能使校准可以从NO LOG的流程继续跑下去。这样的盘也可以做到50结束，但是这种盘很不稳定。返修率会很高。
/ C/ T# D- j3 l* G; K' n0 X注：启动自校准后，硬盘的数据区将全面被清零操作，有重要数据的硬盘在做此操作以前请备份数据，以免造成数据的丢失。
  
2 K2 l' T5 s! G$ ^8 C8 g  
  希捷酷鱼7200.7硬盘自校准各流程功能明细
4.1 硬盘安装和伺服校正测试
4.1.1 TEST 01 - 制造临时日志
4.1.2 TEST 02 - 格式化和测试错误日志
7 \% Q; _7 q% `- D" h4.2 磁头和电路校正测试
4 U3 {: ~0 |( |" H4 b% \0 P4.2.1 TEST 03 - 伺服校正信息
9 l$ g: j  V, T- w+ J4.2.2 TEST 04 - 斜波加载/卸载测试
. d6 x8 j6 N; M/ w# U4.2.3 TEST 05 - 传感器滞后测试
9 H; d! o( o* L$ q/ u' i4.2.4 TEST 06 - 磁头切换测试
4.2.5 TEST 07 - RUNOUT补偿测试
4.2.6 TEST 08 - 当检查伺服错误时盘上写入2T类型
3 R0 }3 G. X, s; b4.2.7 TEST 09 - 磁头低飞显示
4.2.8 TEST 0A - 磁头稳定性测试
& y0 @, _5 `. p: T9 |4.2.9 TEST 0C - 读取伺服缺陷测试位置
4.3.10 TEST 0D - 重学RRO ZAP测试
0 y6 e) \6 e- g0 E. w4.3.11 TEST 0E - 寻找跳过柱面测试（还未实现过）
* A8 F" g6 o1 D4 W! w! t9 b4 Z4.3.12 适应性TEST 0F - 当前写测试
4.3磁头和电路校正测试
4.3.1 TEST 10 - 1E, 2A - 2E 适配区域#（最后区域）通过 0 -所有磁头
4.3.2 TEST 1F - 显示适配性，VCO，和DIODE温度设置
4.3.3 TEST 2F - 显示FIR适应性设置
: A% V8 l: _, @) P/ Z2 \4.4 伺服性能验证测试
6 I5 o# A, V# e- \( a. w) K4.4.1 TEST 20, TEST 60 - 伺服访问次数
" S' ]7 d8 N2 `. k2 B7 T4.4.2 TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 测试
/ `) o' }5 O+ G1 |! X2 U8 |4.4.3 TEST 23 - 开始/停止 （10次）
4 n6 ~9 c+ N1 {0 V1 f4.4.4 TEST 24 - 开始/停止 （2000次）
4.4.5 TEST 29 - 伺服缺陷扫描
4.5 缺陷查找和再分配测试
; v9 X2 p& _; ?5 t( l8 y4.5.1 TEST 30 - 验证所有磁盘组读取，AT级
4.5.2 TEST 31 - 楔形缺陷扫描. 磁头 0-1无读取级，50写级
4.5.3 TEST 32 - 楔形缺陷扫描. 磁头 2-3无读取级，50写级
4.5.4 TEST 36 - 在对磁头0-1楔形扫描中查找出来的缺陷进行定位
4.5.5 TEST 37 - 在对磁头2-3楔形扫描中查找出来的缺陷进行定位
% |9 ?& f$ k2 a$ k4.5.6 TEST 3A-使用1重复读取所有磁头抛光和缺陷测试，重复50次
4.5.7 TEST 3B- 建立缺陷表；填充受损磁头0，1
+ T& F8 ~- X! q+ s! i4.5.8 TEST 3C- 建立缺陷表；填充受损磁头2，3
4.5.9 TEST 3D- 建立缺陷表；填充受损磁头4，5
4.5.10 TEST 3E- 建立缺陷表；填充受损磁头6，7
4.5.11 TEST 3F- 回送测试，写通过测试
4.6 错误率性能测试
$ b+ n& y# M2 s4 `4.6.1 TEST 40- 开始/停止（10次）
4.6.2 TEST 41- 磁道侵入
1 o4 X$ c5 Q" s& f/ N$ k4.6.3 TEST 42- SPIN STAND模拟器- 区域较小错误碧绿
4.6.4 TEST 43- RAM 测试
4.6.5 TEST 46- 数据编译比率
+ f) L1 ~7 M5 t" y4.6.6 TEST 47- 冷写/磁道擦除显示
6 g5 |2 }9 f+ m8 @9 w/ h4.6.7 TEST 48- 错误率，写通过
4.6.8 TEST 49- 写/读/比较（零式样）
* ?5 h" @+ C' L( g6 i3 H( I4.6.9 TEST 4A- 补偿系数检测
4.6.10 TEST 4B- 读
/ J  N# n2 n* x- N0 f4 u8 u6 r4 A4.6.11 TEST 4B -所有磁道冷写显示
4.6.12 TEST 4C- 磁头飞行高度测量
7 }( Y5 a/ }/ q- i0 N- v4.6.13 TEST 4D- 收集自动FA数据
4.6.14 TEST 4E- 检查积累健康和创建自检概要
5 j4 y# F, Z5 {0 p4.6.15 TEST 4F- 失败磁盘测试
4.6.16 TEST 50- 通过磁盘测试
2 L6 N6 m8 P0 S# Q' K2 Z/ f/ {4.7 特殊测试
4.7.1 TEST 51 - 错误率
4.7.2 TEST 52 - 磁盘组写RRO 测试
4.7.3. TEST 54- 拾取歪测
& X7 O" P5 v$ o* n: ^$ c+ g/ o# p7 X4.7.4 TEST 55 - 一百万随机读写
4.7.5 TEST 56 -写/读/比较（零式样）
+ Z$ p) F) p; b" u5 V4.7.6 TEST 61,62,63- 制造可靠性测试
4.7.7 TEST 64- 磁头稳定性测试
! Q  F) \- _: |$ i5 v4.7.8 TEST65，66，67 - 媒体延时测试
+ D3 d! @0 j% r! w1 j& C* _
: f1 f( Q' T  X2 q" ^' a" K

chinalongcs

谢谢

4 Y: O! G! _$ X$ y! D/b]
) z+ T, ^' A$ t( a- P* u

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:strong:

Andy

呵呵，这样的资料要是能够整理出来编成书就好了,盼望中....:Z
' ?) j. O0 c- G" U) H
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